MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE
BARRIDO
Julián Martínez Ortiz
Sergio Melchor Rodríguez
INTRODUCCIÓN
Información morfológica y
estructural
Imágenes tridimensionales
y en escala de grises
CARACTERÍSTICAS

Alta resolución: electrones

Gran profundidad de campo:
rango de nitidez de la imagen

Sencilla preparación de
muestras:
conductoras y secas
MARCO HISTÓRICO

1608: Jansen construye un microscopio con dos lentes
convergentes.

1611: Kepler sugiere la manera de fabricar un
microscopio compuesto.

1665: Hook desarrolla el primer microscopio compuesto
con el cual descubrió la célula.

1660-1690:Van Leeuwenhoeck observo glóbulos rojos,
protozoos, bacterias y otros microorganismos.

1876: Ersnt Abbe analiza los efectos de la difracción en
la formación de la imagen y muestra cómo perfeccionar
el diseño.

1924: De Bröglie extendió la idea de una naturaleza
ondulatoria-corpuscular (cuantica).

1926: Bus demuestra que las leyes geométricas de la
óptica son obedecidas también por los sistemas
electrónicos.

1932: Knoll y Ruska publican una descripción del primer
microscopio electrónico de transmisión (MET).

1942: Max Knoll desarrolla el microscopio electrónico de
barrido (SEM).
FUNDAMENTOS TEÓRICOS
El haz de electrones bombardea la muestra y emite distintos
tipos de señal:
Electrones secundarios: Electrones de la muestra que
saltan de ella por interacción con el haz de electrones.
Electrones retrodispersados: Electrones que chocan
frontalmente con los núcleos de los átomos de la
muestra y retroceden.
Rayos X: Energía liberada de la excitación de los átomos
provocada por el haz.
ELECTRONES SECUNDARIOS
Dispersos
Nanotubos
de carbono
Alineados
ELECTRONES RETRODISPERSADOS
RAYOS X
Microanálisis puntual
Microanálisis por mapeo
Partes del Microscopio SEM
Unidad
óptica-electrónica
Haz de electrones
Ameba a traves
Generador
del MEB
de barrido
Lente condensador
Deflector del haz
Lente objetivo
Visualización de
imágenes
Brazo soporte
de la muestra
Pantalla
Detector
Portamuestras
Preparación de las muestras
Ausencia de líquidos
 Muestra conductora
 Recubrimiento de la muestra



ORO
CARBONO
Técnica de recubrimiento con Oro

Sputtering
Argón
Cátodo
Oro
Átomos
de Oro
Muestra
Vacío
Técnica de recubrimiento con Carbono

Transparente a los Rayos X
Fuente de
corriente alterna
Barra de Carbono
Muestra
Principales Aplicaciones

Geología
Aplicaciones

Estudio de materiales
Estudio dureza
Defecto Cu-Al
Aplicaciones

Metalurgia
Varilla de acero
Aplicaciones

Odontología
Varillas de esmalte
Aplicaciones

Restauración y autentificación obras de arte
Muestra pictórica
Otras aplicaciones
Medicina forense
 Botánica, Biomedicina
 Control de calidad
 Peritaciones caligráficas
 Electrónica

Conclusiones

Sirve para visualizar imágenes de superficies de
materiales con hasta 200.000 aumentos.
 Distintos tipos de señales proporcionan distinto
tipo de información.
 En función del tipo de muestra utilizaremos un
tipo de vacío concreto, el cual determinará el
tratamiento previo realizado a la muestra.
Desventajas
• Elevados costes de los equipos
• Instalaciones especiales para un buen funcionamiento
• Costes de reactivos elevados y elevada toxicidad.
• Equipos complejos y fácilmente descalibrables.
• Imágenes monocromáticas y planas siendo necesario
manipulación informática.
Bibliografía




Introducción a la ciencia de los materiales”, J. M. Albella, A. M.
Cintas, T. Miranda, J. M. Serratosa.
“Principios de análisis instrumental” 5ª Ed., Skoog, Holler,
Nieman
www.itma.es, (Instituto Tecnológico de Materiales)
www.wikipedia.org , (Enciclopedia libre online)
Descargar

Partes del Microscopio SEM